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Spécifications techniques stratégiques : Circuit imprimé de type substrat (SLP)

Dépasser les limites de l'IDH traditionnel. Notre SLP (PCB de type substrat) leviers technologie mSAP livrer $15/15\mu m$ précision, permettant un Réduction de la taille de la carte 30% Pour la 5G, les objets connectés et les modules SiP. Des salles blanches ISO classe 5 à la production en série conforme à la norme IATF 16949, nous vous offrons la fiabilité technique indispensable à vos équipements de nouvelle génération.

Solutions d'interconnexion haute densité pour l'électronique de nouvelle génération


Aperçu général

À mesure que la finesse de gravure des semi-conducteurs diminue jusqu'à $3nm$ et en dessous, l'interface entre le silicium et la carte mère devient un goulot d'étranglement critique. PCB de type substrat (SLP) utilise le Procédé semi-additif modifié (mSAP) Cette technologie permet d'atteindre des densités de circuits auparavant réservées aux substrats de circuits intégrés. Elle est indispensable aux systèmes exigeant des composants à pas ultra-fin et une stabilité thermique et de signal extrême.


I. Capacités de processus et tolérances d'ingénierie

Nos lignes de production SLP sont conçues pour maintenir l'intégrité structurelle au niveau du micron, garantissant des performances sans défaut dans les environnements à haute fréquence.

Paramètre techniqueNorme d'ingénierieMéthodologie
Ligne/Espacement minimum$15 µm / 15 µm$mSAP (Semi-additif)
Enregistrement des couches$ ≤ ± 10 µm$Imagerie directe laser (LDI)
Coupe transversale de la traceProfil rectangulairePlacage électrolytique contrôlé
Tolérance d'impédance$\pm 5\%$Vérifié par TDR
Diamètre du micro-via$50 µm - 75 µm$Ablation laser UV/CO2

II. Science des matériaux avancée et intégrité du signal

Le passage à la technologie SLP est une réponse à l'" effet peau " et aux pertes diélectriques dans les communications 5G/6G.


III. Assurance qualité et conformité industrielle

La fiabilité du B-End est vérifiée grâce à un audit rigoureux en plusieurs étapes :

  1. Inspection optique automatisée (AOI) : Balayage haute résolution pour détecter les courts-circuits, les circuits ouverts et les protubérances de cuivre à une résolution de $10\mu m$.
  2. Tests de contrainte thermique : 1 000 cycles de $-55^\circ C$ à $+125^\circ C$ pour assurer la fiabilité de l'interconnexion via-piste.
  3. Analyse transversale : Analyse physique destructive (DPA) sur chaque lot de production pour vérifier l'épaisseur de la couche intermétallique.
  4. Certification : Respect total des IATF 16949 (Automobile) et IPC-6012 Classe 3 (Électronique haute fiabilité).

IV. Efficacité de la chaîne d'approvisionnement (logistique B2B)


V. Protocole de demande de devis normalisé

Afin de garantir l'exactitude de notre proposition technique et financière, veuillez fournir les informations suivantes :

N'hésitez pas à nous contacter